【分析事例】光デバイス 一覧

【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術

目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します

最終更新日： 2023-04-17 15:56:26.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】FIB低加速加工

FIB：集束イオンビーム加工

最終更新日： 2016-02-05 11:33:49.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析

GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

最終更新日： 2016-08-25 13:21:45.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析

前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能

最終更新日： 2023-04-19 17:47:47.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】UVセンサ　AlGaN中不純物濃度の高精度評価

様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ

最終更新日： 2016-08-25 13:43:50.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】極薄SiON膜の組成・膜厚評価

光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

最終更新日： 2016-02-05 11:53:51.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】極浅注入プロファイルの評価

極浅い領域においてもドーパント分布・接合の評価が可能

最終更新日： 2016-08-25 14:25:09.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価

水酸化アルミニウムAl(OH)3と酸化アルミニウムAl2O3の評価が可能です

最終更新日： 2016-04-19 11:26:36.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価

Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

最終更新日： 2023-04-10 14:19:38.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価

実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

最終更新日： 2016-03-18 10:29:15.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

最終更新日： 2016-10-31 11:32:12.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価

XPS：X線光電子分光法

最終更新日： 2023-03-29 16:58:04.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去

表面汚染を除去してXPSによる評価を行います

最終更新日： 2022-10-11 16:55:41.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価

目的に合わせた測定条件で評価を行います

最終更新日： 2016-03-15 14:41:09.0

お問い合わせ/資料請求

【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項

PL：フォトルミネッセンス法

最終更新日： 2016-03-15 14:30:03.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】GaN系デバイスの発光・発熱解析

GaN系デバイス耐圧評価、及び、表面発熱分布評価のご提案

最終更新日： 2016-03-10 15:15:41.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】SIMSによる化合物半導体の組成分析

化合物半導体の主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

最終更新日： 2016-08-25 14:49:28.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析

裏面側からGaN系LED構造中の不純物プロファイルを取得可能

最終更新日： 2016-08-25 14:54:18.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価

SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

最終更新日： 2016-08-25 14:47:25.0

お問い合わせ/資料請求

【分析事例】Si自然酸化膜の膜厚評価

光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

最終更新日： 2016-03-09 14:58:32.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】白色LEDのフォトルミネッセンス分析

白色LED中のチップ、蛍光体の発光特性の確認

最終更新日： 2016-03-01 14:21:27.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価

ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

最終更新日： 2016-03-01 13:06:19.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析

TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能

最終更新日： 2016-08-25 09:03:48.0

お問い合わせ/資料請求

【分析事例】熱履歴を考慮した異物の成分同定

熱履歴を揃えた標準試料の活用提案

最終更新日： 2016-08-25 13:52:49.0

お問い合わせ/資料請求

【分析事例】ZnO膜の組成・不純物の三次元分布評価

イメージングSIMS分析により面内分布を可視化

最終更新日： 2016-02-19 11:03:55.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化

FFTM法による格子像解析

最終更新日： 2022-11-14 17:19:52.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】Siウエハベベル部の汚染評価

金属成分と有機成分を同時に評価可能です

最終更新日： 2016-02-08 14:17:13.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】照明用発光素子の総合評価

LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います

最終更新日： 2023-04-17 12:46:09.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】イメージセンサの拡散層形状評価

試料解体から測定まで一貫して対応します

最終更新日： 2023-04-20 17:03:22.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード

【分析事例】CMOSセンサの総合評価

スマートフォン部品のリバースエンジニアリング

最終更新日： 2019-02-20 09:26:42.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード