【分析事例】ディスプレイ 一覧

【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

最終更新日： 2016-02-09 12:10:54.0

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【分析事例】Si酸化膜・ITO膜中の「水」の評価

｢重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析

最終更新日： 2016-03-01 11:07:25.0

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【分析事例】高純度雰囲気下での前処理・測定

XPS：X線光電子分光法など

最終更新日： 2023-03-15 10:05:31.0

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【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析

前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能

最終更新日： 2023-04-19 17:47:47.0

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【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

最終更新日： 2016-03-01 11:36:47.0

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【分析事例】白色粉体の複合分析

FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定

最終更新日： 2016-03-01 09:30:28.0

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【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価

雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です

最終更新日： 2016-08-24 14:06:04.0

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【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定

X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です

最終更新日： 2016-08-25 14:21:15.0

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【分析事例】有機EL素子の電極/有機層界面の状態評価

不活性ガス雰囲気下で前処理からXPS測定まで行います

最終更新日： 2016-02-09 13:18:10.0

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【分析事例】有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価

TOF-SIMS深さ方向分析による劣化評価

最終更新日： 2023-04-17 12:26:41.0

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【分析事例】顔料・色素の分散の観察

TOF-SIMSによるミクロンオーダーのイメージ測定

最終更新日： 2022-10-11 17:01:28.0

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【分析事例】有機EL素子中不純物の深さ方向分析

有機EL素子を深さ方向分解能よく評価

最終更新日： 2016-02-09 13:32:36.0

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【分析事例】有機EL素子の劣化評価

雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制

最終更新日： 2016-08-24 14:26:37.0

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【分析事例】有機EL発光層の成分分析

雰囲気を保ったまま解体・前処理から装置導入まで可能

最終更新日： 2016-03-17 14:08:37.0

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【分析事例】有機EL素子の層構造評価

N2雰囲気下での切削加工で酸化劣化を防止

最終更新日： 2016-03-17 14:02:51.0

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【分析事例】有機EL素子の層構造評価

雰囲気制御下で前処理を行うことで酸化劣化を防いだ分析が可能です

最終更新日： 2023-03-08 17:39:03.0

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【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析

微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる分析が可能

最終更新日： 2016-02-09 13:43:00.0

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【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価

シリコン周囲の局所構造解析、中間酸化物の定量、バルク・界面の評価

最終更新日： 2016-10-21 13:38:59.0

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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの劣化解析

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-25 14:23:00.0

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【分析事例】MSDMについて

TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法

最終更新日： 2016-03-18 13:16:37.0

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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの評価

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-18 13:03:36.0

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【分析事例】電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

最終更新日： 2016-10-31 11:32:12.0

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【分析事例】有機膜材料の配向角評価

XAFS：X線吸収微細構造

最終更新日： 2016-03-16 13:07:24.0

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【分析事例】ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価

XPS：X線光電子分光法

最終更新日： 2023-03-29 16:58:04.0

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【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価

ITO表面プラズマ処理後のUPS分析

最終更新日： 2022-10-13 15:43:23.0

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【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価

目的に合わせた測定条件で評価を行います

最終更新日： 2016-03-15 14:41:09.0

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【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項

PL：フォトルミネッセンス法

最終更新日： 2016-03-15 14:30:03.0

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【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価

TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価

最終更新日： 2023-04-07 16:31:38.0

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【分析事例】銅(Cu)の酸化膜厚評価 保管環境による違い

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

最終更新日： 2023-04-07 16:06:43.0

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【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析

下地・基板の影響なく異物の成分を同定します

最終更新日： 2016-03-15 13:23:03.0

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