その他のサービス・サポート情報
FAQやサンプルの送付方法など、分析をご依頼いただくにあたっての情報を掲載いたします。また、無料のセミナーも開催しております。
【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始
有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました！ 従来より空間分解能も向上し、狭い領域でも評価いたします。
最終更新日：
2013-08-02 17:45:29.0
研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」
お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定までをお引き受けし、分析データをご提供。
最終更新日：
2013-08-02 17:23:58.0
ご希望者全員プレゼント！表面分析の基礎と受託分析事例
〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基礎的な解説を充実。また表面分析を用いた代表的な事例を掲載。
最終更新日：
2023-01-30 18:35:36.0
『X線・超音波を用いた非破壊分析の基礎と事例』※希望者全員に進呈
非破壊分析の手法（超音波顕微鏡法・X線CT法）の基礎的な解説や、代表的な分析事例を掲載
最終更新日：
2019-10-30 11:16:59.0
【測定法】質量分析法
【測定法】光電子分光法
【測定法】電子顕微鏡観察・分析
【測定法】振動分光
【測定法】X線回折関連
【測定法】SPM関連
【測定法】故障解析
【測定法】そのほかの測定法
【加工法・処理法】
その他のサービス・サポート情報
【分析事例】LSI・メモリ
【分析事例】光デバイス
【分析事例】太陽電池
【分析事例】燃料電池
【分析事例】ディスプレイ
【分析事例】酸化物半導体
【分析事例】パワーデバイス
【分析事例】電子部品
【分析事例】二次電池
【分析事例】照明
【分析事例】製造装置・部品
【分析事例】バイオテクノロジ
【分析事例】化粧品
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【分析事例】医薬品
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