日本オートマティック・コントロール株式会社

電子システム部

半導体試験機 『INS-1250』

最終更新日: 2023-02-08 17:02:23.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

半導体のEMC規格に対応したサージ専用試験機

半導体や絶縁製品に対して要求される 1.2/50μsのサージ・インパルスのEMC試験機です。
直接印加することができるアクセサリーも多数そろえています。

■ 規格
・VDE- 0884-11
・EC 60747-17
・IEC 60747-5-5
・UL 1577

関連情報

『INS-1250』 半導体試験機
『INS-1250』 半導体試験機 製品画像
■ 規格

・VDE- 0884-11
デジタル・アイソレータ向けEMC規格

・IEC 60747-17
磁気結合/容量結合方式カプラーEMC向け

・IEC 60747-5-5
フォトカプラーの絶縁性能の試験規格

・UL 1577
フォトカプラーの絶縁性能の試験規格

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