【特長】
■過渡熱抵抗測定が可能
■GaN/SiC次世代デバイス対応可能
■JEITAはじめ各種規格へも対応可能
■連続通電試験にも対応可能
■K-factorの自動測定が可能
■チップ温度(Tj)の正確な測定が可能
■リアルタイムで熱抵抗測定が可能
■デバイスの完全破壊前に試験の停止が可能
■2 in 1モジュール、6 in 1モジュール対応
<過渡熱抵抗測定モジュールの特長>
■試験⇔測定間でサンプル付け替えの必要無し
■試験⇔測定間で取り付け方の差による測定のバラツキを回避
■パワーサイクル試験機から過渡熱抵抗測定をスケジュール実行可能
■JEDEC51-14に基づく評価に対応
■2in1モジュールの場合、上下アーム個別に試験可能
■マルチプレクサにより複数デバイスの測定に対応
■過渡熱抵抗測定時間 ~約120秒
■1MspsADC 1CH内蔵(入力レンジ2V/5V)
■解析ソフトウエア(ライセンスを含む)
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■過渡熱抵抗測定が可能
■GaN/SiC次世代デバイス対応可能
■JEITAはじめ各種規格へも対応可能
■連続通電試験にも対応可能
■K-factorの自動測定が可能
■チップ温度(Tj)の正確な測定が可能
■リアルタイムで熱抵抗測定が可能
■デバイスの完全破壊前に試験の停止が可能
■2 in 1モジュール、6 in 1モジュール対応
<過渡熱抵抗測定モジュールの特長>
■試験⇔測定間でサンプル付け替えの必要無し
■試験⇔測定間で取り付け方の差による測定のバラツキを回避
■パワーサイクル試験機から過渡熱抵抗測定をスケジュール実行可能
■JEDEC51-14に基づく評価に対応
■2in1モジュールの場合、上下アーム個別に試験可能
■マルチプレクサにより複数デバイスの測定に対応
■過渡熱抵抗測定時間 ~約120秒
■1MspsADC 1CH内蔵(入力レンジ2V/5V)
■解析ソフトウエア(ライセンスを含む)
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。