シエンタ オミクロン株式会社

HiPP-2

最終更新日: 2020-12-10 16:37:24.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2020/12/10

環境制御型XPS装置のカタログです。

関連情報

HiPP-Lab(環境制御型X線光電子分光分析システム)
HiPP-Lab(環境制御型X線光電子分光分析システム) 製品画像

●Exchangeable chamber concept
●High flux monochromated lab X-ray source
●Tailored UHV system for high performance APPES
●Flexible system design for future upgrades and extensions

※詳細はお問い合わせください。

HAXPES Lab system
HAXPES Lab system 製品画像

・X線源 Ga Kα線 9.25KeV
 - 単色化されたX線
 - 9.25KeVの励起エネルギー
 - 最大250Wのパワー
 - 50μm以下のビームスポット

・高電圧対応、広角アナライザー(EW4000)
 - 10KVの耐電圧
 - 60°の取り込み角度
 - ARPES(角度分解)測定

・分析チャンバー
 - X,Y,Z,Θの4軸駆動のマニピュレーター
 - 900度加熱対応ステージ
 - 13 mm x 15 mmの標準試料プレート
 - 多彩な試料プレート
 - 多彩なオプション搭載ポート

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