「パワエレテクノセンター」を新規設立高性能評価設備の拡充により、様々な半導体材料の評価や高度化するニーズに対応！ 最終更新日： 2024-06-24 16:22:28.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
新規次世代パワー半導体の研究開発拠点を開所低損失化、高耐圧化、小型化の面で優位性を持つ、GeO2半導体の製膜事業の早期参入を目指す！ 最終更新日： 2024-06-03 16:40:30.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
解析技術：静電気破壊SiC-MOSFET/ロックイン発熱解析/プラズマFIBの活用！IR-OBIRCHで故障箇所を特定 最終更新日： 2024-05-23 16:28:54.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
促進耐候性試験：サンシャインウェザメータJIS・ISOをはじめ多くの規格に規定！安定した分光放射照度分布で試験再現性に優れる 最終更新日： 2024-05-16 11:41:32.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
不具合現象：無電解NiAuランドでのはんだぬれ性不良銅張りガラエポ板に各種表面処理を施しはんだ広がり性を調査！ 最終更新日： 2024-04-02 12:59:34.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
パワーサイクル試験装置の開発/製造/販売複数個のDUTの同時試験が可能！要望に応じた制御方法や試験条件にカスタマイズ 最終更新日： 2024-03-05 13:19:20.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
短絡耐量試験の概要および特長パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路についてご紹介 最終更新日： 2024-02-27 16:16:25.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画像化 最終更新日： 2024-02-20 09:40:20.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
温度サイクル試験(急速温度変化チャンバー)より市場再現性の高い評価方法が求められる！温度サイクル試験をご紹介 最終更新日： 2024-02-14 09:38:16.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
