最終更新日:
2022-11-24 10:45:32.0
パワーサイクル試験における半導体チップ温度測定にあたり、どのような方法を選択するかが重要！
パワーサイクル試験は、デバイスへの通電電流による発熱によりTj
(半導体チップ温度)が一定の温度変化を繰り返した際の熱ストレスに対し、
その耐久性を確認する試験です。
パワーサイクル試験では半導体に通電することで加熱。試験では、
半導体チップの温度(Tj)を測定する必要があります。
Tjの測定は、PN接合に電流を流したときの電圧が温度によって変化する
特性を利用。Tjを測定する具体的方法にはいくつか有りますが、試験対象
となるデバイスや試験条件によってメリット、デメリットがあり、試験を
実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素となります。
当社のホームページでは、代表的なTj測定方式の種類とその特長について
説明しています。
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