最終更新日:
2024-09-09 11:30:55.0
すべてのデバイスに対して適切なテスト技術と方法が適切に選択されていることを保証！
当資料では、ロチェスターエレクトロニクスのテストの品質について
詳しく解説しております。
ICコンポーネントテストやテストプログラム、フォールトカバレッジ
などについて表を用いて詳しく解説。
参考になる一冊ですので、ぜひご一読ください。
【掲載内容(抜粋)】
■ICコンポーネントテストとは何か
■テストプログラムとは何か
■テストの品質とは何か＆不良デバイスとは何か
■欠陥とは何か
■欠陥モデルとは何か
■フォールトカバレッジとは何か
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【その他掲載内容】
■残存欠陥とは何か
■フォールトカバレッジと残存欠陥率はシステムのテスト容易性にどのように影響するか
■典型的な欠陥モデル
■構造テストとは何か
■特性評価テストとは何か
■品質と信頼性
■テストはどのくらいすれば十分か
■結論
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
Rochester Electronics, Ltd. 日本営業本部
