絶縁体上の金属膜(銅箔、プリント基板のメッキ等)を短時間(0.7秒)で高精度に測定
●4探針プローブ(ケルビン型)を採用。裏面や内層の影響を受けず、両面基板や多層基板も裏面や内層の影響を受けずに測定可能。
●PCを使用。 画面も大きく見易い仕様。
●校正・測定が簡単。 2種類のレンジが選択でき、2~120μmの金属膜を測定可能。
●最大40チャンネルまで登録できるので、ユーザー名や品番などでチャンネルを分けて登録して管理可能。
●測定データはチャンネルごとに保存でき、後から測定データに統計項目を設定して統計処理することが可能。
●膜厚の上限・下限を設定することで異常値を通知。
測定原理:4探針電気抵抗式
測定範囲:2~24μm、10~120μm
チャンネル数:40チャンネル
データ容量:100,000データ
表示:パソコンモニタ画面による
統計処理:最大値、最小値、平均値、標準偏差、ヒストグラム、上下限値設定
電源:AC100~240V、50/60Hz 10VA(本体)
寸法:W280×D230×H88mm(本体)
重量:3.0Kg(本体)
※詳細はお問い合わせ下さい。
測定範囲:2~24μm、10~120μm
チャンネル数:40チャンネル
データ容量:100,000データ
表示:パソコンモニタ画面による
統計処理:最大値、最小値、平均値、標準偏差、ヒストグラム、上下限値設定
電源:AC100~240V、50/60Hz 10VA(本体)
寸法:W280×D230×H88mm(本体)
重量:3.0Kg(本体)
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型番・ブランド名 | 電気抵抗式膜厚計RST-231 |
用途/実績例 |
絶縁体上の金属膜等(銅箔、プリント基板のメッキ等) |
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株式会社サンコウ電子研究所