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半導体検査用コンタクトプローブ(両端プローブ)紹介カタログ

最終更新日: 2020-10-05 13:39:53.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2020/10/1
狭ピッチの電気検査向け両端プローブ!製作実績からプローブのご提案、ご要望にあわせてカスタム製作も承ります!
半導体検査用コンタクトプロープ(両端プローブ)の紹介です。

ソケット(レセプタクル)を使用しないため、狭ピッチでの検査が可能です。両端プローブの構造やホルダー内でのプローブの動きについて解説。

自社にて設計、部品製作、組立を行っているメリットを活かし、ユーザ様の様々なご要望に対応致します。

掲載しているプローブは一例です。
ピッチ間、先端形状、長さ、荷重等のご要望がございましたら
まずは過去実績よりプローブをお探しいたします。

該当のプローブが見つからなかった場合にはご要望にお応えした
カスタムで新規製作が可能です。

是非、プローブホルダの製作もあわせてご相談ください。

【掲載内容】
■はじめに
■特長
■先端形状について
■プローブの構造
■プローブホルダの構造
■ラインナップ一覧

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連情報

半導体検査用プローブ 先端材質・先端形状…各種選定可能
半導体検査用プローブ 先端材質・先端形状…各種選定可能 製品画像
 プローブ先端部に弊社独自の合金材料を用いたPBフリー対策プローブ、熱の影響による荷重低下を避ける特殊バネを採用した耐熱プローブ、磁気センサー部品の検査にも使用可能なハイレベルな非磁性材料プローブ、信号伝送特性を最大限向上した短尺高周波プローブ等、ユーザ様の様々なご要望にお応えします。
 社内での設計、製造で一貫生産のため少量からのカスタマイズ品提供が可能です。
 プローブの長寿命化、特性向上、コストダウン等ユーザ様の抱える検査工程における問題の解決に貢献致します。
半導体検査【コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード】
半導体検査【コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード】 製品画像
【掲載製品】
■コンタクトプローブ
新技術のご紹介
・プローブ1本あたりの許容電流を倍に。大電流検査に優れたCNT技術
・交換の手間を削減。耐久性に優れたレアメタルプローブ
・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け新型バイアスプローブ

■ICソケット
・非磁性対応ソケット
・高耐熱対応ソケット

■プローブカード
・min80μピッチ対応プローブカード
・大電流負荷試験プローブカード

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンタクトプローブ
コンタクトプローブ 製品画像
・長年の実績に裏付けられた優れた品質
・豊富なラインナップ
・測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等各種選定可能
・標準仕様以外にも全長・先端径・バネ圧の任意設定が可能な特殊仕様品にも対応
P=0.4以下の狭ピッチ コンタクトプローブ(両端ピン)
P=0.4以下の狭ピッチ コンタクトプローブ(両端ピン) 製品画像
【ラインアップ】
■両端可動
・両端のプランジャーがそれぞれ動き、ストロークをとる
■片端可動
・片側が動かず(クリップ)、もう片方のプランジャーが摺動し、ストロークをとる
・プローブピンが短い場合に採用されることが多い構造

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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