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半導体検査機器【ICソケット・プローブカード】紹介カタログ

最終更新日: 2020-10-05 13:40:24.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2020/10/1
半導体電気検査をサポート!前工程検査で使うプローブカード、後工程検査で使うICソケットをご紹介!お客様に合わせたカスタム製作です
当カタログは、半導体ウェハー電気検査に使用する
プローブカード(前工程検査)とICソケット(後工程検査)の製品紹介です。

両製品には精研のコア技術である「コンタクトプローブ」を使用した製品です。お客様の使用環境をヒヤリングし、プローブの選定から製品の構成設計・加工・組立を一貫して承ります。

その他にも、金属、樹脂の加工品、表面処理、組立・配線作業のみのご依頼も承ります。

【掲載内容】
■はじめに
■半導体電気検査とは
■前工程検査(プローブカード)
■後工程検査(ICソケット)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連情報

半導体検査【コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード】
半導体検査【コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード】 製品画像
【掲載製品】
■コンタクトプローブ
新技術のご紹介
・プローブ1本あたりの許容電流を倍に。大電流検査に優れたCNT技術
・交換の手間を削減。耐久性に優れたレアメタルプローブ
・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け新型バイアスプローブ

■ICソケット
・非磁性対応ソケット
・高耐熱対応ソケット

■プローブカード
・min80μピッチ対応プローブカード
・大電流負荷試験プローブカード

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
P=0.4以下の狭ピッチ コンタクトプローブ(両端ピン)
P=0.4以下の狭ピッチ コンタクトプローブ(両端ピン) 製品画像
【ラインアップ】
■両端可動
・両端のプランジャーがそれぞれ動き、ストロークをとる
■片端可動
・片側が動かず(クリップ)、もう片方のプランジャーが摺動し、ストロークをとる
・プローブピンが短い場合に採用されることが多い構造

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体検査用プローブ 先端材質・先端形状…各種選定可能
半導体検査用プローブ 先端材質・先端形状…各種選定可能 製品画像
 プローブ先端部に弊社独自の合金材料を用いたPBフリー対策プローブ、熱の影響による荷重低下を避ける特殊バネを採用した耐熱プローブ、磁気センサー部品の検査にも使用可能なハイレベルな非磁性材料プローブ、信号伝送特性を最大限向上した短尺高周波プローブ等、ユーザ様の様々なご要望にお応えします。
 社内での設計、製造で一貫生産のため少量からのカスタマイズ品提供が可能です。
 プローブの長寿命化、特性向上、コストダウン等ユーザ様の抱える検査工程における問題の解決に貢献致します。

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