電子部品検査治具その他資料 | カタログ

電子部品検査治具

最終更新日: 2020-10-21 14:11:12.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日：2020/10/6
コネクタ、チップ部品、電子基板等、様々な電子部品の検査に対応
コネクタ、チップ部品、電子基板は、様々な電子機器において欠かすことのできない重要な部品であり、それらは高機能化、小型化し続けています。これら製品のOS、耐圧等の検査工程は高い品質を維持するための非常に重要です。弊社では、狭ピッチ対応可能なプローブピン技術と、微細加工・組立技術に裏付けられたハイレベルな検査治具をご提供致します。

関連情報

『電子部品検査治具』のご紹介

■カスタム設計
狭ピッチ対応プローブ
・自社製品で、豊富なラインナップ。
・MINピッチ350μm対応（OS検査）。
・耐熱、大電流、低抵抗等特性UPのカスタム対応。

■ハウジングも自社で製作
・豊富な経験に基づく設計ノウハウ。
・充実の設備で樹脂及びセラミック加工部品内製。
・ご環境（耐熱、非磁性等）に合わせた材料選定可能。

■設計・組立・配線・検査まで一貫生産
・冶具全体での品質保証、バックアップが可能。
・コネクタを配線して出荷も可能。貴社では装置に組み込むのみ。
・優れたコストパフォーマンス、納期対応。

コンタクトプローブ

・長年の実績に裏付けられた優れた品質
・豊富なラインナップ
・測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等各種選定可能
・標準仕様以外にも全長・先端径・バネ圧の任意設定が可能な特殊仕様品にも対応

P=0.4以下の狭ピッチコンタクトプローブ(両端ピン)

【ラインアップ】
■両端可動
・両端のプランジャーがそれぞれ動き、ストロークをとる
■片端可動
・片側が動かず(クリップ)、もう片方のプランジャーが摺動し、ストロークをとる
・プローブピンが短い場合に採用されることが多い構造

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

半導体検査【コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード】

【掲載製品】
■コンタクトプローブ
新技術のご紹介
・プローブ1本あたりの許容電流を倍に。大電流検査に優れたCNT技術
・交換の手間を削減。耐久性に優れたレアメタルプローブ
・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け新型バイアスプローブ

■ICソケット
・非磁性対応ソケット
・高耐熱対応ソケット

■プローブカード
・min80μピッチ対応プローブカード
・大電流負荷試験プローブカード

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『半導体検査用コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』

長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境をご提供できるよう
また、より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

『半導体検査用コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』

【主要展示品】
・P=120μm プローブカード、中継ブロック
・高周波IC ソケット
・大電流MC プローブ
・実装基板
・精密作業用ピンセット
・金属、樹脂加工品

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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