エスオーエル株式会社
おすすめ情報
-
- 寸法測定X線CT装置『TomoScope XS』※無料測定実施
- 複合品や金属も鮮明なデータを作成！測定精度3.5μm、低コストな小型モデル。事例資料進呈
- 最終更新日：2019-01-23 09:13:07.0
最新ニュース
-
- 2018-04-24 00:00:00.0
-
- TomoScopeXSの精度が(4.5+L/75)μmに更新されました！
-
- 2018-04-23 00:00:00.0
-
- 人とくるまのテクノロジー展 2018 横浜に出展します
-
- 2017-12-04 00:00:00.0
-
- 平面度測定の特集サイトがオープンしました
-
- 2017-03-29 00:00:00.0
-
- 寸法測定X線CT装置TomoScopeのHPが新しくなりました！
-
- 2016-05-11 00:00:00.0
-
- 人とくるまのテクノロジー展2016に出展します！
注目製品情報
-
-
- 超高精度ウェーハ形状・厚み測定機『MSP-Wafer』【最新！】
- MSP-Waferは、ウェーハの膜厚分布、研磨量分布を測定する装置で、プロセスの均一性評価に最適です。半導体ウェーハのプロセス管理でお使いいただいており、使い勝手もご好評いただいております。 ＜特長＞ ・繰り返し精度：0.02µm（SORI、TTV)・0.1µm（厚み） ・吸着、非吸着測定を1つのステージで行うため段取り替え不要。 ・露光時と同じ水平置きで測定。
-