有限会社シスコム(SysCom)

ナノ表面粗さ・段差形状計測器 ナノセブン

UPDATE   最終更新日: 2024-05-01 11:11:46.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

非接触測定・迅速・低価格・高分解能!! 防振台、クリーンルームも不要で計測時間を大幅に短縮!
計測方式:光ヘテロダイン干渉計測
高さ分解能:0.1nm
基準高さ計測範囲:0.5~300nm
標準計測範囲:X軸45mm、Y軸45mm
粗さ Ra:0.1~50nm、段差 1~150nm
スクラッチ、形状等
本体寸法:W313xD614xH428mm 、約27Kg

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

有限会社シスコム(SysCom)

カタログ 一覧(37件)を見る