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2023-08-28 00:00:00.0
IEEE ITC-Asia 2023 企業ブース展示のお知らせ 【The 7th IEEE International Test Conference in Asia 2023：半導体集積回路試験技術に関するアジア国際会議】

セミナー・イベント   掲載開始日: 2023-08-28 00:00:00.0

タカヤ株式会社は、「IEEE ITC Asia 2023」のオフィシャルパートナーとなりました。

「IEEE ITC Asia 2023」とは、ICテスト分野で最大の国際会議である
IEEE International Test Conference のアジア版です。

ICテストに関連する研究者・大学関係者等が集まり、基調講演・基調パネル討論・論文発表を通じ、
世界中の学術界と産業界の間でより多くの議論と交流を促すことを目的とした会議です。

今年のIEEE ITC Asia は 2023年9月12日(火)～14日(木)の3日間、島根県松江市のくにびきメッセで開催されますが、
会場内に タカヤ株式会社の企業紹介ブース（パネル等）を展示頂けることとなりました。

本会議へお越しの際は、是非タカヤのブースへも足をお運びください。

開催日時 2023年09月12日（火） ～ 2023年09月14日（木）
会場 島根県立産業交流会館 くにびきメッセ
住所　〒690-0826 島根県松江市学園南1丁目2-1
参加費 有料
主催者ホームページより申し込みが必要です。

関連資料

関連製品情報

フライングプローブテスタ：APT-1340J　＊評価テスト受付中
フライングプローブテスタ：APT-1340J　＊評価テスト受付中 製品画像
業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50％アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度･広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。 ★岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。
フライングプローブテスタ：APT-1400F-SL＊テスト受付中
フライングプローブテスタ：APT-1400F-SL＊テスト受付中 製品画像
業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

APT-1340Jの基本性能はそのままに、対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。 搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、 電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。 ※製品についてはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
デュアルサイドフライングプローブテスタ：APT-1600FD
デュアルサイドフライングプローブテスタ：APT-1600FD 製品画像
上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

基板の上面に4本、下面に２本のプローブを配置。 それぞれが自在に高速移動し、 世界最高水準の驚異的な検査スピードを実現するフラッグシップモデルです。 上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で 基板の上面・下面の両ポイントへの同時コンタクト検査を可能としました。 検査可能範囲を大幅に拡大し、検査時間のさらなる高速化を実現しています。 豊富な機能を備え、スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇ります。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。
デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-1600FD-SL
デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-1600FD-SL 製品画像
上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストが可能です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で 基板の上面・下面の両ポイントにコンタクトが可能な部品の検査を可能としました。 スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇りつつ、 対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板も検査可能です。 搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、 電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。

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