タカヤ株式会社

事業開発本部

2021-11-22 00:00:00.0
第36回 ネプコン ジャパン -エレクトロニクス 開発・実装展-に出展致します。【e-招待券ダウンロード可能です(*無料)】

セミナー・イベント   掲載開始日: 2021-11-22 00:00:00.0

弊社では、広く皆様に高性能フライングプローブテスタのご案内を申し上げるべく、アジア最大級のエレクトロニクス開発・実装展「ネプコン ジャパン」に出展する運びとなりました。

弊社ブースでは、上面4軸/下面2軸の同時コンタクトで基板裏表の同時検査に対応する「APT-1600FD」を国内初出展し、実際の検査性能を確認いただけます。

ご多用の折とは存じますが、何卒ご来場賜りますようご案内申し上げます。

第36回 ネプコンジャパン
https://www.nepconjapan.jp/

展示会名  : 第36回 エレクトロテスト ジャパン -エレクトロニクス検査・試験・測定展-
弊社小間番号: 東3ホール 17-54
弊社出展製品: デュアルサイドフライングプローブテスタ「APT-1600FD」 
        フライングプローブテスタ「APT-1640J」

開催日時 2022年01月19日(水) ~ 2022年01月21日(金)
10:00 ~ 18:00
(最終日のみ17:00まで)
会場 東京ビッグサイト
参加費 無料
リンク先より無料のe-招待券をダウンロードしてください。※お一人様一枚必要。人数分プリントアウトして頂くか、画面をお見せください。  ※招待券をお持ちでない場合、入場料5,000円/人 がかかります。

関連製品情報

デュアルサイドフライングプローブテスタ:APT-1600FD
デュアルサイドフライングプローブテスタ:APT-1600FD 製品画像
上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

基板の上面に4本、下面に2本のプローブを配置。 それぞれが自在に高速移動し、 世界最高水準の驚異的な検査スピードを実現するフラッグシップモデルです。 上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で 基板の上面・下面の両ポイントへの同時コンタクト検査を可能としました。 検査可能範囲を大幅に拡大し、検査時間のさらなる高速化を実現しています。 豊富な機能を備え、スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇ります。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。
デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-1600FD-SL
デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-1600FD-SL 製品画像
上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストが可能です。(検査可能基板サイズ:985×610まで対応)

上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で 基板の上面・下面の両ポイントにコンタクトが可能な部品の検査を可能としました。 スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇りつつ、 対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板も検査可能です。 搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、 電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。
フライングプローブテスタ:APT-1340J *評価テスト受付中
フライングプローブテスタ:APT-1340J *評価テスト受付中 製品画像
業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50%アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度・広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。 ★岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。
フライングプローブテスタ:APT-1400F-SL*テスト受付中
フライングプローブテスタ:APT-1400F-SL*テスト受付中 製品画像
業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。(検査可能基板サイズ:985×610まで対応)

APT-1340Jの基本性能はそのままに、対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。 搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、 電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。 ※製品についてはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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