最終更新日:
2023-12-11 13:20:07.0
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インサーキットテスト（プリント基板の電気検査）のプロービング方法には、治具式とフライングプローブ式とがあります。
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治具式
コンタクトプローブが埋め込まれた検査治具を検査基板に接触、全てのプローブを同時に基板上の所定のテストポイントに接触させます。その状態で、計測ラインをリレーで切り替えながら各電子部品の検査を実行します。検査対象となる基板には，それぞれの検査を組み合わせるプログラムと，専用の治具を製作する必要があり，コスト、スピード、保管スペースの面で課題があります。
フライングプローブ式
プローブを保持した複数のアームが基板上の任意のポイントにプロービングを行います。プローブ移動時間が必要で、治具式と比較すると検査時間は長いですが，治具が不要でプログラム入れ替えだけで段取り替えできるため，工程トータルで見た場合、時間・コスト削減につなげられます。また、多品種少量生産の基板検査にも適します。テストポイントの座標も任意に変更でき、基板の部分的な設計変更への対応も容易です。試作基板検査や不良解析などでも利用されています。
基本情報
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| 用途／実績例 | 半導体製造装置関係 通信インフラ・サーバー 車載・航空機・船舶 医療機器 など、様々な市場・製品に搭載されるプリント基板のインサーキットテスト（電気検査）に、全世界でご活用いただいております。 |
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