タカヤ株式会社

ICのリード浮き、BGAのボール浮きを電気的に検出しませんか?

最終更新日: 2024-11-19 11:22:44.0
TAKAYA独自のICオープンテストシステム

※詳細機能はカタログにてご覧いただけます※

TAKAYAのフライングプローブテスタには、独自開発のセンサプローブを用いて、 BGA, QFP, SOJなどのICリード浮き不良、ハンダ不良を高速検出するシステムを搭載できます。

IC本体にダメージを与えることなく、狭ピッチICのリード浮き不良や、BGAのボール浮き不良を電気的に検出が可能です。

トライアル/テストも相談賜ります。
お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。

※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※

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基本情報

タカヤは、日本を代表するフライングプローブテスタのメーカーとして、世界各国で高い評価をいただいています。その活躍の場は、家電業界だけではなく、高い品質基準を求められる医療機器業界や自動車業界、また参入障壁の非常に高い航空・宇宙産業など幅広い分野にわたっております。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【採用業界】
 EMS,EMDS企業
 半導体製造装置関係
 通信インフラ・サーバー
 車載・航空機・船舶
 医療機器
 産業機械、ロボット
 FA工作機械
 発電、電力システム

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