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最終更新日:
2024-11-18 15:13:46.0
発電・電力システム向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。
AOIでは検査が難しいディスクリート部品や手挿入部品に対し、APTを活用した電気的検査を組み合わせることで、発電・電力システム基板に求められる高い品質基準を実現し、効率的な検査体制を提供します。
【導入実績】
・ディスクリート部品を中心とした実装確認を実施し、高信頼性を要求される電力システム基板の品質保証を達成。
・電源ラインや手挿入部品を含む基板での全数検査を実現。
【お客様がかかえられていた課題】
AOIでの検査限界:
AOI（外観検査装置）は、表面実装部品の検査には優れるものの、以下の点で限界がある：
手挿入部品の検査が困難: 電源ラインや大型ディスクリート部品の実装品質を十分に検証できない。
部品の位置や極性の確認不足: AOIでは正確な電気特性を確認できないため、誤挿入や極性不良が見逃されるリスク。
電源通電時のリスク:
電源ラインの不良部品や誤配線が、基板の破損や部品破壊につながる可能性。
特にディスクリート部品の品質保証が不十分な場合、発熱や短絡のリスクが高まる。
廃棄基板の発生:
通電テストで基板が破損した場合、不良基板の廃棄が発生し、コストが増加。
基本情報
【フライングプローブテスタ導入のメリット】
AOIを補完する電気的検査:
AOIで検査が困難な手挿入部品や大型ディスクリート部品をAPT（フライングプローブテスタ）で電気的に検査。
電源ラインの部品配置や極性、ショート・ブリッジの有無を精密にチェックし、通電前に不良箇所を特定。
高信頼性の品質保証:
電気特性の検査により、誤挿入や極性不良を防止。
通電試験前に基板の不具合を未然に防ぎ、基板破損のリスクを低減。
廃棄基板の削減:
通電試験中に発生する部品破損や基板破壊を最小化。
不良基板の排除により、廃棄コストを削減し、製品歩留まりを向上。
ディスクリート部品への対応:
手挿入部品や大型部品の物理的状態を検査し、AOIとAPTの併用で検査カバレッジを最大化。
大型基板や複雑な回路設計にも柔軟に対応。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | TAKAYA APTシリーズ |
| 用途／実績例 | 【導入の効果】 通電前検査による不良流出防止: AOIでは見逃しがちな電源ラインの不良をAPTで詳細に検査。 通電前に不具合を特定し、基板の破損を防止。 生産コストの削減: 基板破損による廃棄を減らし、全体的な製造コストを削減。 再検査や不良処理の手間を最小化。 高い安全性の実現: 電力システム基板での通電時の安全性を向上。 発電・電力システムに求められる高い信頼性基準を満たす品質保証体制を構築。 【応用例】 発電システム基板: 高電圧対応の電源ライン検査。 手挿入部品（リレーやトランス）の電気的品質保証。 電力分配装置基板: 大型ディスクリート部品を含む基板の電源ライン検査。 ショートやブリッジの発生を未然に防止。 蓄電池管理システム基板: 通電時の発熱防止を目的とした部品配置や極性検査。 |
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