最終更新日:
2023-04-20 10:16:07.0
ダイとシールを保護!試験結果への影響を最小減に抑える事が可能なフィルム
生ゴムやコンパウンドは、高い温度での試験、加硫試験を行うと、様々な
汚染物質を放出する可能性が有ります。
汚染物質は、ダイを汚し、滑り易く、腐食されたりする可能性が有ります。
フィルムは、ダイとシールを保護し、装置のメンテナンスコストを抑え、
試験結果への影響を最小減に抑える事が可能です。
PDF資料では、推奨フィルムや取り扱いフィルムを詳しくご紹介しています。
是非ダウンロードしてご覧ください。
【推奨フィルム条件】
■最高試験温度
■最大ひずみ量
■試験時間と温度
■サンプル自動搬送の有無
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
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