【その他掲載事例】
■残像(焼付き)評価
■生産ラインでの高精度高速測定
■有機ELディスプレイ規格
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■残像(焼付き)評価
■生産ラインでの高精度高速測定
■有機ELディスプレイ規格
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上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
OLEDなどを例とした「不良評価解析事例」についてご紹介します。
次世代ディスプレイとして有機ELディスプレイが広がり始めている中、
Mini-LEDディスプレイ、Micro-LEDディスプレイ、
量子ドットディスプレイ等の開発が盛んになってきています。
当資料では、微細化された次世代ディスプレイの開発・設計及び
量産時の評価として、OLEDなどを例とした「不良評価解析事例」について
掲載しています。
【掲載事例(一部)】
■階調ムラ評価
■サブピクセル個体差評価
■サブピクセル面内ムラ評価
■混色(バンク材漏れ光)評価
■NIR-OLED(顔認証光源)評価 など
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社トプコンテクノハウス