最終更新日:
2018-11-05 14:06:16.0
超微弱近赤外測定の高精度化を実現！
近年「近赤外領域」測定の需要が多くなってまいりましたが、
手軽に測定できる測定機がありませんでした。
弊社では分光放射計のSRシリーズで培われた技術を基に
「近赤外分光放射計SR－NIR」を開発いたしました。
分光放射計SRシリーズと併用していただくことにより、
380nm～1030nmの分光放射輝度を測定することが可能です。
その他詳細はカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
基本情報
【特長】
○近赤外領域（600～1030nm）の分光分布の高精度測定が可能
○LCD、PDPなどFPDから超微弱で発光する近赤外光測定が可能
○分光放射計SRシリーズとの併用で、可視～近赤外（380～1030nm)の分光分布を高精度に測定
●その他詳細はカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
| 価格情報 | － 詳細はお問い合わせください。 |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | SR-NIR |
| 用途／実績例 | 【用途】 ○LCD・PDPなどFPDの近赤外領域の出力観測 ○CCFLランプのHg輝線（1013nm）出力観測 ○Ne、Arの輝線出力観測 ○光学フィルム等の近赤外透過特性の評価 ○近赤外線領域発光LEDの出力観測 ○その他光源の近赤外分光計測 詳細はお問い合わせください。 |
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株式会社トプコンテクノハウス
