複雑な等価回路の測定に最適
■特長
●パラレル/シリアルモード切替可能
●L/C/R各パラメータを自動選択し最適レンジで測定
●テスト周波数:100/120Hz、1/10/100kHz
●D(損失係数)、Q(品質係数)、θ(位相角)測定可能
●別売使用で表面実装部品の測定に最適
●USB/RS232C接続でPCでのデータ編集が可能
■オプション
SMDチッププローブ
SMDテスター
SMDチッププローブ
SMDテスター
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 |
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※ 都度、ご確認ください。 |
用途/実績例 |
■仕様 表示 メイン表示19999カウント サブ表示1999カウント 測定パラメータ L(インダクタンス)、C(キャパシタンス)、R(抵抗) D(損失係数)、Q(品質係数)、θ(位相角)、ESR 測定モード シリアル、パラレルモード キャパシタンス 20pF/200pF/2000pF/20nF/200nF/2000nF/20μF/200μF/2000μF/20mF インダクタンス 20μH/200μH/2000μH/20mH/200mH/2000mH/20H/200H/2000H 抵抗 20Ω/200Ω/2kΩ/20kΩ/200kΩ/2MΩ/20MΩ/200MΩ 測定周波数 100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz 使用環境 0~50℃ 70%RH以下(ただし結露なきこと) 保存環境 0~60℃ 80%RH以下(ただし結露なきこと) 電源 006P×1 電池寿命:約20時間 寸法・重量 88(W)×193(H)×41(D)mm 約390g 付属品 テストクリップ(赤・黒)、取説、電池 |
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