有機半導体の損傷なし&高分解能!研究に耐える精度でLUMO準位測定ができる!
低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』は、
有機半導体を損傷させることなく高精度なLUMO準位測定ができる低エネルギー逆光電子分光装置。
照射するエネルギーを分子の共有結合より低くすることで、試料の損傷を回避。
また光検出に高性能フィルターを採用し、分解能0.5eV以下を達成しました。
従来機「IPES」をベースに、これまで抱えていた課題を解決しています。
【特長】
■高感度
■高分解能0.5eV以下
■有機半導体の開発や性能UPに貢献
※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。
【仕様】
■機器
エネルギー分解能:0.5eV以下
■電子銃
加速エネルギー:3~10eV
カソード材質:BaO
Beam Focus:φ1~3mm
試料電流値:~10μA
バイアス入力:±50V
■光電子増倍管
感度波長:160nm~650nm
バンドパスフィルター:260nm,285nm
窓材質:石英ガラス
■制御
計測制御コントローラー
表示操作端末:デスクトップパソコン
OS:Windows7
※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。
■機器
エネルギー分解能:0.5eV以下
■電子銃
加速エネルギー:3~10eV
カソード材質:BaO
Beam Focus:φ1~3mm
試料電流値:~10μA
バイアス入力:±50V
■光電子増倍管
感度波長:160nm~650nm
バンドパスフィルター:260nm,285nm
窓材質:石英ガラス
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計測制御コントローラー
表示操作端末:デスクトップパソコン
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低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』
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