株式会社アナリティクイエナ ジャパン

アプリケーションノート 電子廃棄物中の貴金属分析 ICP-OES

最終更新日: 2024-05-22 15:15:53.0

カタログ発行日:2023/09
卓越した感度と高分解能光学系を搭載した高分解能ICP-OESによる干渉の無い貴金属分析
ICP発光分光分析は、リサイクル品の金属化合物中の正確な貴金属濃度の検出に特に適しています。 多くのICP発光分光分析装置は卑金属の分析に容易に対応できますが、感度の限界と複雑なマトリックスからの深刻なスペクトル干渉により、貴金属の検出がしばしば困難になります。PlasmaQuant 9100 Eliteの堅牢なプラズマは冶金サンプルを容易に処理し、高い長期安定性を提供します。

関連情報

アナリティクイエナ ジャパン 分析機器総合カタログ
アナリティクイエナ ジャパン 分析機器総合カタログ 製品画像
【掲載製品】
・原子吸光分析装置
  novAA800 ZEEnit P contrAA 800
・ICP発光分光分析装置
  PlasmaQuant PQ 9100
・ICP質量分析装置
  PlasmaQuant MS
・マイクロウェーブ試料分析装置
  speedwave XPERT
speedwave ENTRY
・微量元素分析装置(硫黄/窒素/炭素/塩素)
  multi EA 5100
・炭素・硫黄分析装置
  multi EA 4000
・全有機体炭素分析装置 TOC計
  multi N/Cシリーズ
●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

株式会社アナリティクイエナ ジャパン

カタログ 一覧(32件)を見る