株式会社アントンパール・ジャパン

【大容積の真空パスによるバックグラウンド低減の効果】X線回折を使用した食品中の糖の分析(英語)

最終更新日: 2023-02-20 11:07:49.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

XRD装置による食品中の糖の分析
XRD装置による食品中の糖の分析 製品画像
XRDynamic 500のTruBeam TMコンセプトは、大型のゴニオメーター半径、真空ビームパス、完全に自動化されたX線光学系/ビーム配置の変更機能を組み合わせ、卓越したデータ品質を実現します。直感的に使えるソフトウェアと最適化されたワークフローにより、さまざまな装置構成で多様なサンプルを測定できます。標準のBragg-Brentano構成で、クラス最高の分解能(1番目のLaB6標準ピークでFWHM <0.021°)を達成します。測定バックグラウンドを最大50 %低減し、空気散乱を最小限に抑えることで、優れたS/N比を実現しています。最適化された非大気下でのXRD測定の構成、およびSAXS専用機の品質を備えたSAXS測定用の構成に素早く切り替えることができます。

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

株式会社アントンパール・ジャパン

カタログ 一覧(359件)を見る