最終更新日:
2014-07-10 14:33:02.0
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
恒温槽いらず！システムひとつでICへの加熱・温度監視できるICテストソケット
「GLOVA」は、ICを直接加熱して、デバイスの温度変化をリアルタイムに監視・制御できる卓上型のICテストソケットです。恒温槽やサーモストリーマなど外部の温度制御ユニットがいらず、システムひとつでテストが可能です。
±0.1℃単位の高精度な温度設定と、デバイスの温度監視が可能。設定温度までの立ち上がりが早く、試験時間の短縮に効果的です。1個対応の1デバイス型と、100個まで拡張できる多数個デバイス対応型があります。
■試験温度 : 室温～200℃
■試験温度到達 2分～5分程度
■温度試験最長 1,000時間
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エア・ブラウン株式会社 電子機器部
