最終更新日:
2023-07-07 16:26:04.0
SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
日本電子株式会社 JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。
JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
〇特長
・Simple SEM 撮影したい視野を選ぶだけ
・安全・簡単！ 試料交換ナビ
・Zeromag 光学像を拡大すれば、SEM像
・Live Analysis / Live Map 観察中も常に元素分析
・充実の機能
※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【仕様】
JSM-IT510 Seriesは4タイプがあります。
・BU (Base Unit)
高真空下での観察が可能なベーシックタイプ
・A (Analysis)
エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) が構成された、標準で分析が可能な分析タイプ
・LV (Low Vacuum)
反射電子検出器（BED）が構成された、低真空下 (最大650 Pa) での観察が可能な低真空タイプ
・LA (Low Vacuum & Analysis)
BEDとEDSが構成された、低真空分析タイプ
※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
| 価格情報 | お問い合わせください。 |
|---|---|
| 価格帯 | 1000万円 ~ 5000万円 |
| 納期 |
お問い合わせください
※ 配送地域により変動がありますので、お気軽にお問い合わせください。 |
| 型番・ブランド名 | JSM-IT510 InTouchScope |
| 用途／実績例 | 【用途】 金属材料、半導体材料、ソフトマテリアル / 高分子材料、生体試料の分野 |
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