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JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡

最終更新日: 2023-05-25 09:11:32.0

関連情報

JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡
JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 製品画像
【仕様】
JSM-IT510 Seriesは4タイプがあります。
・BU (Base Unit)
 高真空下での観察が可能なベーシックタイプ
・A (Analysis)
 エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) が構成された、標準で分析が可能な分析タイプ
・LV (Low Vacuum)
 反射電子検出器(BED)が構成された、低真空下 (最大650 Pa) での観察が可能な低真空タイプ
・LA (Low Vacuum & Analysis)
 BEDとEDSが構成された、低真空分析タイプ

※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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【仕様】
■JSM-IT200 InTouchScope 走査電子顕微鏡
 分解能
  高真空モード:3.0nm(30kV)、8.0nm(3.0kV)、15nm(1.0kV)
  低真空モード:4.0nm(30kV BED)
 写真倍率:×5~300,000
      (128mm×96mmを表示サイズとして倍率を規定)

■JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
 写真倍率:×10~100,000
       (128mm×96mmを表示サイズとして倍率を規定)
 表示倍率:×24~202,168
       (280mm×210mmを表示サイズとして倍率を規定)

■JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡
 タイプ:BU (Base Unit)、A (Analysis)、LV (Low Vacuum)、LA (Low Vacuum & Analysis)
 分解能
  高真空モード:3.0 nm (30 kV)、15.0 nm (1.0 kV)
  低真空モード:4.0 nm (30 kV BED)
 

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