【仕様】
JSM-IT510 Seriesは4タイプがあります。
・BU (Base Unit)
高真空下での観察が可能なベーシックタイプ
・A (Analysis)
エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) が構成された、標準で分析が可能な分析タイプ
・LV (Low Vacuum)
反射電子検出器(BED)が構成された、低真空下 (最大650 Pa) での観察が可能な低真空タイプ
・LA (Low Vacuum & Analysis)
BEDとEDSが構成された、低真空分析タイプ
※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
JSM-IT510 Seriesは4タイプがあります。
・BU (Base Unit)
高真空下での観察が可能なベーシックタイプ
・A (Analysis)
エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) が構成された、標準で分析が可能な分析タイプ
・LV (Low Vacuum)
反射電子検出器(BED)が構成された、低真空下 (最大650 Pa) での観察が可能な低真空タイプ
・LA (Low Vacuum & Analysis)
BEDとEDSが構成された、低真空分析タイプ
※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。