最終更新日:
2023-07-07 16:49:58.0
1kVの低加速電圧で保証分解能1.6nmを実現しました
日本電子株式会社 JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置は、形態観察、元素分析や結晶解析などの評価技術にも高い分解能と精度のニーズに応える装置です。
「インレンズショットキー電子銃」との組み合わせで、高分解能観察と高速分析が可能です。
〇特長
・高分解能SEM観察
・高速分析
・高速加工
・検出システム強化
・三次元観察、三次元分析
※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【仕様】
〇SEM
加速電圧：0.1 ～ 30.0 kV
分解能(最適WD時)：1.2 nm (15 kV, GBモード)
1.6 nm (1 kV, GBモード)
倍率：x20 ～ 1,000,000(LDFモード搭載)
〇FIB
加速電圧：1 ～ 30 kV
像分解能：4.0 nm (30kV)
倍率：x50 ～ 1,000,000(x50 ～ 90は加速電圧15kV以下で可能)
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| 価格情報 | お問い合わせください。 |
|---|---|
| 価格帯 | 1億円 ~ |
| 納期 |
お問い合わせください
※ 配送地域により変動がありますので、お気軽にお問い合わせください。 |
| 型番・ブランド名 | JIB-4700F |
| 用途／実績例 | 【用途】 金属材料の微細領域を三次元観察、元素や結晶の三次元観察など |
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