日本電子株式会社 JIB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。
試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。
〇特長
・二軸傾斜カートリッジとTEM ホルダーによりTEM ⇔ FIBのリンクを容易に
・カートリッジは専用のTEM 試料ホルダーにワンタッチで装着可能
・正確かつ迅速にピックアップ作業可能
・TEM 試料作製からシームレスにSTEM観察に移行
・自動TEM試料作製システムSTEMPLING2により、TEM試料作製を自動化
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基本情報
【仕様】
■SEM
像分解能:0.7 nm (15 kV)、1.4 nm (1 kV)、1.0 nm (1 kV、BD モード)
倍率:×50 〜 ×1,000,000 (STD モード)、×1,000 〜 ×1,000,000 (UHR モード)
×10 〜 ×19,000 (LDF モード) (128 mm × 96 mm 写真サイズ表示時)
■FIB
像分解能:3 nm (30 kV 時)
倍率:×50 〜 ×300,000 (加速電圧により制限あり)
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型番・ブランド名 | JIB-PS500i |
用途/実績例 | 【用途】 試料作製、TEM観察 |
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アズサイエンス株式会社 松本本社