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AOMシステムズ社 噴霧・スプレー粒子計測装置SpraySpy

最終更新日: 2016-11-09 15:39:20.0
位相ドップラ法やレーザー回折法に変わる噴霧液滴粒子計測システム

AOMシステムズ社のSpraySpyは、独自のパルス変位法(Time-Shift technique)を用いた、全く新しい噴霧液滴/スプレー粒子計測システムです。国際特許を取得しており、位相ドップラー法やレーザー回折法など既存技術では困難であった、不透明あるいは非球形粒子および高密度スプレー粒子のサイズや移動速度、粒子密度などを同時に計測することが可能です。
また、後方散乱光を検出するためレーザー発信部と受光部が同一となり、面倒な受光部の位置調整作業を省略することが可能です。

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基本情報

SpraySpyは1つの光源と光源を挟む形で設置された2つの検出器により、構成されます。光源から発信されたレーザー光が対象液滴/粒子により散乱(反射)され、その散乱光(反射光)を、それぞれの検出器で検出します。この際、各検出器に散乱光(反射光)が入射するタイミング(ピーク位置)には、僅かな差が生じます。この差はタイムシフトと定義され、粒子のサイズや移動速度などと相関があるため、噴霧液滴・粒子の状態計測が可能となります。

価格帯 1000万円 ~ 5000万円
納期 お問い合わせください
型番・ブランド名 AOMシステムズ社 SpraySpy
用途/実績例 ●フューエルインジェクターの評価
●スプレーガンなど塗装スプレーの計測
●噴霧乾燥機などのアドマイザーの評価

詳細情報

DKSH Japan AOM SpraySpy process.jpg
システム模式図1
レーザー光源と検出器は計測対象に対して図のように配置されます。
DKSH Japan AOM SpraySpy real time spray control.jpg
システム模式図2
計測対象粒子によって散乱(反射)されたレーザー光は2つの検出器により図の様はスペクトルとして観測されます。
DKSH Japan AOM SpraySpy® histogram example.jpg
測定結果例図
計測結果は図の様なヒストグラムとして表示することなどが可能です。
DKSH Japan AOM SpraySpy real time spray control2.jpg
測定原理図
粒子によるレーザー光の反射は、その反射ポイントの違いにより時間的な広がりを持って検出器で検出されます。

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