株式会社安永

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高精度3D&2D寸法・欠陥検査ユニット『VM-A』

最終更新日: 2020-07-07 07:14:22.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易!3D&2D寸法・欠陥検査ユニット
『VM-A』は、設備に搭載できる3D/2D計測・異物欠陥検査ユニットです。

3D検査では、安永独自の位相シフト法 高速・高精度検査で、
ボール/リード端子から各種実装部品の高さ検査まで幅広く対応します。

2D検査では、マルチアングルLED照明切替+複数画像撮像で検査対象品の
不良モードに合わせ、適した照明環境を構築します。

【特長】
■独自の位相シフト法 高速・高精度検査
■3D検査技術を応用して、高さの変化のある凹凸欠陥も検出可能
■マルチアングルLED照明切替+複数画像撮像
■コンパクト&スリム
■対象ワークに合わせた専用ソフト・照明環境構築

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連情報

高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』
高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』 製品画像
【主な仕様】
■外形サイズ:(W)132×(D)325×(H)380mm
■カメラ画素:4M~25Mpix
■視野:10,20,30,40mm
■画像撮像枚数:Max20枚
■撮像速度:10msec/枚

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』
半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』 製品画像
【主な仕様】
■外形サイズ:(W)132×(D)325×(H)380mm
■カメラ画素:4M、12M、25Mpixから選択可能
■視野:20,30,40mmから選択可能
■画像撮像枚数:Max20枚
■撮像速度:10msec/枚

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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