【2023年1月25日（水）～27日（金）】1台で個片検査とウエハ全体の官能検査が可能な装置など
株式会社ヒューブレインは、東京ビッグサイトで開催される
『第37回 エレクトロテスト ジャパン』に出展いたします。
ルールベースとAIのハイブリッド検査を行う「クラック検査装置（AI搭載）」や
「ウエハ検査装置」、「ラインカメラフォトメトリックステレオ」、
「ラインカメラ方式 3D検査装置」を出展予定。
皆さまのご来場を心よりお待ちしております。
【出展予定製品】
■クラック検査装置（AI搭載）
■ウエハ検査装置
■ラインカメラフォトメトリックステレオ
■ラインカメラ方式 3D検査装置
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【展示会概要】
■名称：第37回 エレクトロテスト ジャパン
■日時：2023年1月25日（水）～27日（金） 10:00～17:00
■会場：東京ビッグサイト 東展示棟
■小間番号：東2ホール 16-48
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■名称：第37回 エレクトロテスト ジャパン
■日時：2023年1月25日（水）～27日（金） 10:00～17:00
■会場：東京ビッグサイト 東展示棟
■小間番号：東2ホール 16-48
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株式会社ヒューブレイン
