EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み
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2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
EELS分析手法による膜質評価
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FIB-SEMによる半導体の拡散層観察
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LCDパネル良品解析
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LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察
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SiCデバイスの裏面発光解析
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静電破壊した橙色LEDの不良解析
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短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析
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ICの不良解析
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表面実装電子部品の断面観察サービス
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実装部品・電子部品の断面研磨サービス
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【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）
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【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）
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クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス
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EBSD法による解析例
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