クロスビームFIBによる断面観察半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなどナノスケールの精度で製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を行う手法です。 最終更新日: 2023-01-12 17:18:58.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
信頼性保証サービスのご紹介JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、エレクトロニクス製品、部品等の信頼性評価試験を承ります。 最終更新日: 2023-01-12 17:19:24.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
In-Situ 常時測定信頼性評価試験サービスIn-Situ 常時測定信頼性評価試験サービス 最終更新日: 2023-01-12 17:19:24.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
海外製部品・製品評価サービス海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれます。これらの部品・製品に対して信頼性試験・評価試験サービスを提供します。 最終更新日: 2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析顕微ATR法により、異物のIRデータを取得。有機物の面内分布の観察及び秒単位で変化する有機物の状態測定が可能です。 最終更新日: 2023-01-12 17:18:04.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み
微小異物分析のためのサンプリング技術エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、サンプリング技術を駆使して迅速な分析結果をご報告します。 最終更新日: 2023-01-12 17:18:04.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
TOF-SIMS分析TOF-SIMSは、軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析が可能です。 最終更新日: 2023-01-12 17:18:58.0製品カタログ お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み