機械研磨による半導体の観察例半導体の構造観察や不良解析における断面作製!FIBやCPに劣らぬ断面作製が可能 最終更新日: 2024-07-01 15:59:29.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
CP加工装置Arblade5000_ワイドエリア断面ミリング約2倍の幅広加工が可能!局所的であった観察範囲を大幅に広げることができる 最終更新日: 2024-09-10 15:51:08.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例各相の多種のマップを表示することも可能!試料の持つ結晶構造の情報を基に解析 最終更新日: 2024-10-23 09:39:24.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード