品質技術トータルソリューション
製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組に対し、技術と経験を基に迅速で的確な解決策を提供。
最終更新日：
2020-10-29 10:25:22.0
不良・物理解析
アイテスでは、分析解析・信頼性評価サービスを行っております。
TEMによる電子部品・材料の解析
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
最終更新日：
2019-11-07 14:17:35.0
電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します！
過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装置で、熟練の技術集団がパワーデバイスを徹底評価・解析！
最終更新日：
2020-11-16 11:34:03.0
LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察
SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です！
最終更新日：
2020-11-16 11:41:25.0
FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせ
ソフトマテリアルの断面作製も実現！Auto Slice＆Viewで3D再構築も可能です！
最終更新日：
2022-09-28 17:45:49.0
