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Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

最大8インチＭＥＭＳラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応えいたします！

最終更新日： 2020-10-30 11:16:36.0

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【資料】EBSDによるウイスカ解析

ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介！

最終更新日： 2020-11-06 15:38:13.0

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【資料】イオンクロマトによる低分子有機酸の分析事例

一部の有機物を検出可能！低分子有機酸を陰イオン交換モードで測定した例をご紹介

最終更新日： 2020-10-06 09:33:24.0

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発光解析のための半導体の裏面研磨

様々な形態の半導体で裏面研磨が可能！素子、不具合の様子の観察が出来ます

最終更新日： 2020-09-24 10:55:10.0

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LEDの故障解析

高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用！不点灯や輝度劣化の原因を調査

最終更新日： 2020-09-14 17:37:08.0

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【資料】化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム1

主鎖骨格が類似のPET、PENフィルムの線膨張率の違いとその差異を生むメカニズムを解明した事例をご紹介

最終更新日： 2020-09-14 17:37:08.0

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超微⼩硬度計による材料評価

経年の品質管理にも役⽴つ！⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬度測定

最終更新日： 2020-09-14 17:37:08.0

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EBSDによる解析例（セラミック）

「観察/元素分析」や「EBSDによる解析」など！EBSDによる解析例を紹介致します

最終更新日： 2020-09-14 17:37:08.0

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顕微ラマンによる無機化合物の分析

金属酸化物などの無機化合物の分析も可能！銅張積層板表面の黒点分析をご紹介します

最終更新日： 2020-09-02 13:12:03.0

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顕微ラマンによる金属腐食の分析

金属酸化物などの無機化合物の分析も可能です！

最終更新日： 2020-09-02 13:13:19.0

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【資料】化学反応機構研究所　材料変色原因解明事例

素材ポリアミドイミドやIR装置による分析結果、データ解析などをを分かりやすく掲載！

最終更新日： 2020-12-29 14:05:50.0

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液晶パネルの不良解析

点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます！

最終更新日： 2023-10-05 17:18:52.0

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フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析

屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介します！

最終更新日： 2020-09-02 13:15:24.0

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パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします！

最終更新日： 2020-12-29 14:04:12.0

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MLCCクラック　X線観察

外観で確認できなかったクラックも、X線なら見つかるかもしれません！

最終更新日： 2020-09-02 13:16:31.0

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ウィスカ評価

検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です

最終更新日： 2020-08-21 10:14:40.0

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EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します

最終更新日： 2020-08-21 10:14:40.0

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EELS分析手法による膜質評価

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！

最終更新日： 2020-08-21 10:14:40.0

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FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

他手法より短納期！FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施できます！

最終更新日： 2020-11-16 11:44:10.0

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LCDパネル良品解析

LCD部品、製品の品質状態を確認！液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手法と知見で解析致します！

最終更新日： 2023-10-05 17:17:06.0

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LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です！

最終更新日： 2020-11-16 11:41:25.0

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SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対応！

最終更新日： 2020-11-16 11:39:04.0

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静電破壊した橙色LEDの不良解析

良品と静電気（ESD）破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光解析事例をご紹介します！

最終更新日： 2020-08-31 09:13:05.0

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短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析

Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります！

最終更新日： 2020-11-16 11:36:23.0

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ICの不良解析

不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応

最終更新日： 2020-08-19 10:41:57.0

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表面実装電子部品の断面観察サービス

実装基板上の電子部品のはんだ接合状態、部品の内部構造を詳細に観察することができます！

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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実装部品・電子部品の断面研磨サービス

1つ1つの部品を手作業で丁寧に、無駄のない工程で研磨加工しています！

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

広範囲での観察、計測も可能！レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

高い加工精度と広い加工領域を実現！冷却機能でダメージを軽減しながらの加工も可能です

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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