株式会社アイテス

AFM(原子間力顕微鏡)

最終更新日: 2020-06-01 13:04:14.0
微小プローブによる高分解能でのイメージング!ナノレベルの構造解析を実現いたします

当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの
構造解析を実現いたします。

「形状測定(タッピングモード)」では、周期的に振動させた
プローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。

また、「位相イメージング」は、カンチレバーを動かす周期信号と
カンチレバーの振動との間の位相遅れをマッピングし、形状には
現れない物性の違いを可視化します。

【特長】
■微小プローブによる高分解能でのイメージング
■導体、半導体、絶縁体を問わず測定可能
■微小な触圧によりほぼ非破壊で測定できる

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【適用例】
■ウエハ、ガラス、基板等の表面粗さ評価
■MEMS、ナノインプリント等の形状評価
■フィルム等の物性評価(位相イメージング)

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