株式会社日本レーザー

超高安定性 二次元分光干渉計 GEMINI 2D

最終更新日: 2024-02-26 18:34:44.0
過渡吸収分光測定を先進の2次元分光装置に変換します

〇コンパクトで軽量(180mm x 180mmフットプリント、0.4kg)
〇UVから近赤外までの選択波長範囲においてOPAやNOPAをサポート
〇吸収スペクトルのためのポンプ・プローブ分光法
〇グレーティングも入力/出力スリットも無い、1cmのクリアーアパーチャーにより高スループット実現
〇お客様がお持ちの既存の光学系に容易に結合が可能
〇頑丈で堅牢なデザイン
〇ドライバーを含めた完全な一体型
〇世界中で迅速なサポート

NIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換しする、コンパクト・軽量で安定性に優れた干渉計です。フェムト秒レーザーパルスの入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類なき安定性と堅牢性を備えています。

※詳しくはPDFカタログをダウンロードいただくか、お問い合わせください。

基本情報

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型番・ブランド名 超高安定性・二次元分光干渉計 “GEMINI 2D”
用途/実績例 干渉計

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