最終更新日:
2024-04-19 15:46:19.0
C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応
導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。
■サンプルサイズ :最大100 mm角
■ステージ移動距離 :100 mm
■XY走査範囲 : 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%)
■Z走査範囲 : 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%)
■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms
■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms
■ノイズレベル :Typ : <0.01 mV RMS
基本情報
※詳しくはお問い合わせください。
価格情報 | **お問合せ下さい。 |
---|---|
納期 | お問い合わせください |
型番・ブランド名 | Nano Observer AFM XL |
用途/実績例 | ● GaAs層 ● 電磁体構造 ● SRAM |
関連カタログ
お問い合わせ
※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。
株式会社日本レーザー