株式会社日本レーザー

原子間力顕微鏡

最終更新日: 2024-04-19 15:46:19.0
C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応

導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。

■サンプルサイズ :最大100 mm角
■ステージ移動距離 :100 mm
■XY走査範囲 : 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%)
■Z走査範囲 : 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%)
■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms
■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms
■ノイズレベル :Typ : <0.01 mV RMS

基本情報

※詳しくはお問い合わせください。

価格情報 **お問合せ下さい。
納期 お問い合わせください
型番・ブランド名 Nano Observer AFM XL
用途/実績例 ● GaAs層
● 電磁体構造
● SRAM

関連カタログ

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

株式会社日本レーザー

製品・サービス一覧(190件)を見る