株式会社日本レーザー

AFM-IR装置 サブ 10 nm対応

最終更新日: 2024-04-30 17:29:12.0
ナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM

サブ 10 nm PiFMケミカルマッピングを実現。FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得可能です。最速 100 ミリ秒 / 1点でPiF IR スペクトルを掃引が可能。短時間で測定ができます。

基本情報

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型番・ブランド名 Vista One
用途/実績例 半導体、ポリマー、無機物、ナノフォトニクス

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