最終更新日:
2024-10-31 16:34:07.0
老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現
柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定(KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。
基本情報
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型番・ブランド名 | Nano-Observer 2 |
用途/実績例 | 材料科学 半導体研究 高分子研究 生体試料 二次元材料特性評価 太陽光発電 電気化学 腐食研究 ナノメカニカル分析 |
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株式会社日本レーザー