株式会社日本レーザー

AFM 原子間力顕微鏡 ナノオブザーバー 2

最終更新日: 2024-10-31 16:34:07.0
老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現

柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定(KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。

基本情報

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型番・ブランド名 Nano-Observer 2
用途/実績例

材料科学
半導体研究
高分子研究
生体試料
二次元材料特性評価
太陽光発電
電気化学
腐食研究
ナノメカニカル分析

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