NDT(非破壊検査)用のX線検出器としてもご使用いただくことが可能です!
当社で取り扱う、X-Spectrum社の主力検出器『LAMBDA(ラムダ)』の 「NDT(非破壊検査)での使用」についてご紹介いたします。 バッテリー、電子部品、PCBなどの製造工程に用いて、部品の 欠損・欠陥の早期発見に役立ちます。 また、特に目視では発見することができない、小さい欠損や コンポーネント内部の欠損の発見に役立てることができます。 【使用概要】 ■ご使用方法:メソッド X線CTスキャン ・対象物に対して照射されたX線の計測 ・対象物 or 検出器を回転させ3Dデータの取得 ■分解能 ・~10μm(高速スキャン時) ・<1μm(低速スキャン時) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社で取り扱う、X-Spectrum社の主力検出器『LAMBDA(ラムダ)』の 「NDT(非破壊検査)での使用」についてご紹介いたします。 バッテリー、電子部品、PCBなどの製造工程に用いて、部品の 欠損・欠陥の早期発見に役立ちます。 また、特に目視では発見することができない、小さい欠損や コンポーネント内部の欠損の発見に役立てることができます。 【使用概要】 ■ご使用方法:メソッド X線CTスキャン ・対象物に対して照射されたX線の計測 ・対象物 or 検出器を回転させ3Dデータの取得 ■分解能 ・~10μm(高速スキャン時) ・<1μm(低速スキャン時) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。