最終更新日:
2024-04-15 12:43:27.0
NDT(非破壊検査)用のX線検出器としてもご使用いただくことが可能です！
当社で取り扱う、X-Spectrum社の主力検出器『LAMBDA(ラムダ)』の
「NDT(非破壊検査)での使用」についてご紹介いたします。
バッテリー、電子部品、PCBなどの製造工程に用いて、部品の
欠損・欠陥の早期発見に役立ちます。
また、特に目視では発見することができない、小さい欠損や
コンポーネント内部の欠損の発見に役立てることができます。
【使用概要】
■ご使用方法：メソッド X線CTスキャン
・対象物に対して照射されたX線の計測
・対象物 or 検出器を回転させ3Dデータの取得
■分解能
・～10μm(高速スキャン時)
・＜1μm(低速スキャン時)
※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【システム概要】
■ピクセルサイズ：55µm×55µm
■センサ種類：Si、GaAs、CdTe
■チップ：Medipix3 読出チップ搭載-高速読出
■ソフトウェア：C++Library、Python、3rd party driver for Tango&EPICS
■エネルギーレンジ：6-150+keV X-ray energy
※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | X-Spectrum |
| 用途／実績例 | 【NDT(非破壊検査)使用事例】 ■高速バッテリー-CTスキャン ■電子部品-ナノCTスキャン ■LAMBDA X線検出器による取得 3Dイメージ ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
お問い合わせ
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