最終更新日:
2023-07-19 15:27:57.0
X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ！微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上
X線回折（XRD）は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象を
ピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の
化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。
「微小部X線回折装置」では、X線モノキャピラリと半導体検出器との
組み合わせにより、微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を
大幅に向上。
微小物質の化合物形態、残留応力測定等の微小部分における各種調査に
応用出来ます。また、モノキャピラリにより、照射X線を100μmまで
絞ることで、サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能です。
モノキャピラリは、全反射によってX線を取り出すため、X線の減衰が
少なく微小部分析に有効です
【特長】
■微小部分における各種調査に応用可能
■サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能
■X線の減衰が少なく微小部分析に有効
■特定部位における測定に有効
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい
基本情報
【測定例】
■内容
・装置部品に発⽣した微細なスケールを分析
■結果
・試料⾯上の特定部位における測定に、微⼩部X 線回折が有効であると考えられる
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