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最終更新日:
2024-12-17 17:49:59.0
小型化・大容量化が進む積層セラミックコンデンサの量産品検査に対応した計測器モジュール、PCI Express対応Cメータボード
本製品は、静電容量 (C)、および損失係数 (D) を高速高精度で計測可能なPCI Expressバス準拠のCメータボードです。4端子測定を2チャネル分搭載しており、本製品1枚でWindows パソコンにベンチトップ計測器2台分の機能を組み込むことが可能となり、電子部品検査システムの小型化とコストダウンに貢献します。
近年、スマートフォンなどのスマートデバイスの普及や自動車をはじめとするモビリティの電動化を背景に、積層セラミックコンデンサ (以下、MLCC) などの需要が増加しています。また、こうしたデバイスは小型化・バッテリ駆動時間の延長が求められており、MLCCは小型化・大容量化が進められています。新製品は、400pFから最大1400μFの静電容量 (C)、エネルギ損失係数 (D) の計測を実現していますので、大容量化するMLCCの検査に対応することができます。
基本情報
【主な特長】
●大容量のセラミックコンデンサ測定
400pF～1.4mFのセラミックコンデンサの静電容量Cと損失係数Dの測定が可能です。測定周波数は、1kHzと120Hz、測定電圧は1.0Vrmsと0.5Vrmsです。
●4端子測定ポートを2チャネル搭載
コンデンサの容量を4端子測定で測定できるポートを2チャネル搭載し、それぞれ独立したレンジ設定、測定動作が可能です。
●高速な測定が可能
静電容量Cと損失係数Dを、1kHzでは2msec、120Hzでは10msecで測定可能です。
●定電圧での容量測定が可能
測定対象のコンデンサに印可される電圧が、設定電圧になるように自動で出力電圧を調整する機能を持っています。
●トリガ同期信号出力機能を搭載
測定時のみ測定対象に電圧を印加する機能です。これにより測定対象の発熱による特性変化を低減する事が出来ます。また、接続変更時に測定信号が印加されない事で接点の摩耗を低減する事が出来ます。
●コンタクトチェック機能を搭載
●補正機能を搭載
●Windowsに対応したデバイスドライバAPI-ZM(WDM)を用意
| 価格情報 | お気軽にお問い合わせください。 |
|---|---|
| 価格帯 | 10万円 ~ 50万円 |
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | ZM-C2H-PE |
| 用途／実績例 | 電子部品の生産量の増加に伴い、検査装置を複数ライン化するなどの対策が図られていますが、この時に課題となるのが装置の大型化と通信速度です。従来のベンチトップ型測定器で複数ラインの検査システムを構築すると、多くの測定器を並列に配置することになり、検査システムが大型化してしまいます。また、測定器と検査結果判定用PCとの間でEthernet、USB、GPIBといった通信が介在し、タクトタイムが伸びてしまう要因になります。 本製品は、従来ベンチトップ型計測器が主流であったCメータ機能をPCI Express対応の拡張ボード化した製品です。検査システムを小型化するとともに、高速ローカルバスPCI Expressの利点を活かした高速データ処理によりタクトタイムの短縮に貢献します。 |
ラインナップ
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| ZM-C2H-PE | PCI Express対応 Cメータボード |
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