疑似同軸・ストレート疑似同軸で均一照射照明 ・
鏡面ワークに最適
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。
正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。
基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。
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型番・ブランド名 | IFV |
用途/実績例 |
・半導体/電子部品業界 →基板のパターン検査、ウェハーのマーキング検査 ・食品/包装/薬品業界 →シート状の文字検査 |
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疑似同軸落射照明 IFVシリーズ
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